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SPECTRO 斯派克 偏振能量色散X射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS
杰出的靈敏度帶來高達3倍的精度改進——這是分析維量到主量元素含量時高準確性的基礎
· 可以檢測到極低的痕量元素：自適應激發、前沿的X光管設計和高計數率的檢測系統顯著降低了多種元素（通常為1/3）的檢測極限
· 掌握未知：Turboquant II軟件工具提供一種能力——分析未知樣本，不管是液體、固體還是粉末狀，無論是樹葉、塑料、油品、石墨……
新型SPECTRO XEPOS光譜儀代表了能量色散X射線熒光技術上的巨大突破。它帶來主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性進展。激發和檢測方面的新發展實現了杰出的靈敏度和檢測極限——大幅提高精確性和準確度。
SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在從快速篩查分析到精確產品質量控制等關鍵任務中表現十分出色。將它用于各行各業的臨線處理，包括地質和采礦、環境和廢物檢測以及科研和高校。
不同版本特定基體中所含特定元素組的性能。創新的X射線管和*的新型自適應性激發技術造就最高靈敏度，全面優化所選的目標元素。
重復性： | <0.1% |
分析含量范圍： | 亞ppm-100% |
價格區間： | 50萬-100萬 |
能量分辨率： | <130eV |
元素分析范圍： | Na-U |
儀器種類： | 臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF |
